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芯片失效分析檢測是判斷芯片失效性質(zhì)、分析失效原因、研究預防措施的技術(shù)工作。其目的在于提高芯片品質(zhì)，改善生產(chǎn)方案，從而保障產(chǎn)品品質(zhì)。

AEC-Q認證服務(wù)是專門針對汽車電子零部件設(shè)計的一系列質(zhì)量評估與可靠性測試服務(wù)。它旨在確保汽車電子部件能夠在各種復雜多變的環(huán)境下穩(wěn)定工作，為汽車的安全性和性能提供堅實的保障。

車規(guī)電子元器件認證是對用于汽車電子領(lǐng)域的元器件進行的一系列嚴格測試和認證，以確保它們能在汽車的各種復雜環(huán)境中穩(wěn)定、可靠地運行。

半導體元器件失效分析檢測采用光學傳感器、紅外線探測器或顯微鏡等技術(shù)，通過觀察和分析半導體元器件表面的光學特征，來識別缺陷、污染或結(jié)構(gòu)問題。

廣電計量車規(guī)電子元器件AEC-Q全系認證服務(wù)建成并具備了覆蓋AEC-Q100、101、102、104、200全套認證測試能力，有利地支撐國產(chǎn)電子元器件的設(shè)計、制造、終端應(yīng)用過程中的產(chǎn)品分析測試需求。

X-ray元器件無損檢測失效分析：X-ray檢測是一種發(fā)展成熟的無損檢測方式，目前廣泛應(yīng)用在物料檢測（IQC）、失效分析（FA）、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域。廣電計量可針對對金屬材料及零部件、電子元器件、電纜，裝具，塑料件等進行X-ray無損檢測。

光電熱機械全參數(shù)測試 光電器件：廣電計量光、電、熱、機械全參數(shù)測試服務(wù)可與企業(yè)合作，深入產(chǎn)品研發(fā)階段，有效為產(chǎn)品研發(fā)和定型提供測試保障。

傳感器液體冷熱沖擊試驗：液態(tài)冷熱沖擊試驗主要用于兩個裝置內(nèi)部的液體冷熱交替循環(huán)試驗。冷熱沖擊試驗是評價散熱器抗溫度交變循環(huán)能力的強化試驗，為冷卻器的設(shè)計提供試驗數(shù)據(jù)，也是驗證冷熱交變溫度下非金屬-金屬連接件的可靠性，對保證換熱器質(zhì)量和提高其可靠性具有重要作用。廣電計量可提供傳感器液態(tài)沖擊試驗服務(wù)。